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薄膜晶点检测仪用于透明、半透明薄膜的晶点瑕疵实时检测与分析 EasyScan系列薄膜晶点检测仪 ES100F,是专注于薄膜表面质量检测的高精度设备。该仪器运用先进 LED 线光源与 TDI 线扫描相机,对动态传输的薄膜进行拍摄,再借助瑕疵分析软件,可高效精准识别出薄膜存在的各类细微晶点瑕疵 。
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EasyScan 系列薄膜晶点检测仪 ES100F — 薄膜质检 “智” 造先锋产品简介EasyScan系列薄膜晶点检测仪ES100F,是我司专为薄膜晶点品质检测场景匠心打造的高精度、高性能检测设备。依托先进LED线光源与TDI线扫描相机,精准捕捉薄膜表面细微晶点瑕疵,为薄膜产品质量筑牢坚实防线,助力企业把控品控环节,交付优质产品,守护薄膜品控全流程 。 核心技术与特点先进光源 + 专业相机,精准揪出晶点采用亮度均匀的LED线光源,有效弱化阴影、光晕干扰,即便在复杂检测环境下,也能清晰抓取薄膜表面细微晶点,为检测提供优质图像基础,让微小瑕疵无所遁形 。 搭配高灵敏度TDI线扫描相机(Time Delay Integration 延时积分技术),以超高清晰度捕捉运动中薄膜表面图像,实现高品质晶点检测,不放过任何影响质量的 “蛛丝马迹” 。 高效落地,快速上手深度贴合薄膜检测实际场景设计,安装调试超便捷 :依据用户规格,2 小时内即可完成安装并投入使用,大幅压缩设备启用周期,让质检流程快速启动 。 操作门槛低 :主打 “快速入门” ,无需复杂培训与专业知识储备。配套图文指导手册、短视频教程,用户简单学习就能轻松操作;专业客服团队同步提供在线 / 现场技术支持,保障安装与使用全程顺畅,助力企业迅速将设备融入质检环节,提升效率 。 应用价值作为 EasyScan 系列核心成员,ES100F 肩负双重使命: 一方面,以 高灵敏度、高分辨率、高重复性 检测性能,适配各类薄膜材料晶点检测需求,从源头上把控产品质量,减少不良品流出,维护企业品牌口碑 ; 另一方面,通过高效部署、简易操作与优质售后,降低企业设备引入与使用成本,助力企业在薄膜晶点品质检测环节,实现 降本增效 ,提升市场竞争力,为薄膜品控领域高质量发展注入 “智” 造动力 。 EasyScan 系列薄膜晶点检测仪 ES100F,以先进技术、便捷体验,成为薄膜晶点质检环节的可靠伙伴,期待与您携手,守护薄膜产品品质,驱动行业高效品控! 产品功能特征: l 检测全程无人值守 l 实时显示拍摄到的薄膜视频 l 实时检测薄膜运行速度 l 检测宽度可以设定、调整 l 缺陷照片标注缺陷类型、尺寸、面积、时间等信息 l 缺陷照片可以放大展示并可以查看热力分布分析图、2D、3D缺陷分析图 l 数据可通过缺陷类型、尺寸等分类,进行筛选查看缺陷照片、统计图等信息 l 可以设定统计基数,以便出具符合国标或企标的检测结果 l 根据薄膜类型,实时统计当前缺陷面积占总检测面积的比值(PPM) l 多级阈值设定,减少误检和提高尺寸计算精度 l 具有缺陷分类自学习系统,缺陷分类准确率高 l 具有数据库功能,方便数据查阅和备份,以及远程传输 l 具有缺陷地图功能,可以查看和定位每个缺陷在薄膜的位置 l 多种缺陷尺寸计算方式可选 l 可以查看多种数据统计分析图,如:趋势图、直方图、制程能力分析图等 l 可以查看多种数据统计分析表,如:尺寸分级统计表、缺陷分类统计表、检测基数统计表等 l 管理员、操作员权限清晰,多级权限管理 l 检测报告可自定义,可以增加或删除图表,修改报告logo等信息 |